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大小写变形:scanning auger microprobe
Argon ion sputter rates of SiO _ 2 standards were determined by PHI 600 Scanning Auger Microprobe ( PERKIN - ELMER ).
用PHI600型扫描俄歇探针对二氧化硅标样测定了氩离子对二氧化硅的溅射速率.
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